مقاله A NEW TEST PATTERN GENERATEOR BY ALTERING THE STRUCTURE OF 2درD LFSR FOR BUILT IN SELF TEST APPLICATION با word
مقاله A NEW TEST PATTERN GENERATEOR BY ALTERING THE STRUCTURE OF 2درD LFSR FOR BUILT IN SELF TEST APPLICATION با word دارای 6 صفحه می باشد و دارای تنظیمات در microsoft word می باشد و آماده پرینت یا چاپ است
فایل ورد مقاله A NEW TEST PATTERN GENERATEOR BY ALTERING THE STRUCTURE OF 2درD LFSR FOR BUILT IN SELF TEST APPLICATION با word کاملا فرمت بندی و تنظیم شده در استاندارد دانشگاه و مراکز دولتی می باشد.
این پروژه توسط مرکز مرکز پروژه های دانشجویی آماده و تنظیم شده است
توجه : در صورت مشاهده بهم ریختگی احتمالی در متون زیر ،دلیل ان کپی کردن این مطالب از داخل فایل ورد می باشد و در فایل اصلی مقاله A NEW TEST PATTERN GENERATEOR BY ALTERING THE STRUCTURE OF 2درD LFSR FOR BUILT IN SELF TEST APPLICATION با word،به هیچ وجه بهم ریختگی وجود ندارد
بخشی از متن مقاله A NEW TEST PATTERN GENERATEOR BY ALTERING THE STRUCTURE OF 2درD LFSR FOR BUILT IN SELF TEST APPLICATION با word :
سال انتشار: 1383
محل انتشار: دوازدهیمن کنفرانس مهندسی برق ایران
تعداد صفحات: 6
چکیده:
In this paper a ROM-less deterministic test pattern generator (TPG) has been proposed for test per clock scheme. This TPG consists of a two dimensional linear feedback shift register (2-D LFSR) and a controller. The controller configures the structure of 2-D LFSR and it has a quite simple structure and a very low area overhead. Simulated annealing algorithm is used to find the coefficient matrix of 2-D LFSR. Test application time and power consumption is significantly reduced using this technique while keeping fault coverage at 100%. Compared to the previous works, the proposed method is able to generate a much larger set of deterministic test vectors with approximately thesame number of flip flops. Experimental results are shown for ISCAS’85 benchmarks.
دانلود این فایل